micron验厂咨询-供应商质量管理体系QMS的建立要求与高管审查责任

5.0 供应商质量
5.1 质量管理期望
5.1.1 所有供应商均应建立质量管理体系（QMS），确保制定书面的质量业务流程、控制措施和体系，以防止本标准或任何其他支持性协议中定义的失控或不合格产品送达美光。供应商的高管管理层有责任按规定的时间间隔对质量管理体系进行充分审查，以确保其有效性。
5.1.2 作为质量管理体系的一部分，供应商应根据美光的要求提供关键联系人清单和当前的质量组织架构。若关键联系人清单或质量组织架构发生任何变更，供应商应立即通知美光。
5.2 质量方针
供应商应编制书面的质量体系手册，以支持其制造流程，并引用所有与质量相关的流程、控制措施和体系。该质量体系手册应包含为美光提供的任何产品的流程或产品资质认证计划。
5.3 质量记录与文件
美光供应商应建立收集、存储、维护和处置所有与质量相关的文件或记录的程序。这些记录可能包括支持美光采购的货物或服务质量要求的原始工艺数据、资质认证数据、统计数据、测试或检验数据。质量记录的保存期限应为产品处于生产和服务要求有效期内的时间，再加上一整个日历年，除非美光与供应商另有约定。经双方同意，美光可能要求供应商采用额外的质量要求管理程序或做法。
5.4 质量方法（概念或技术）
为确保质量的持续改进，供应商应在产品生命周期的所有阶段（即构思、设计、资质认证、生产、测试、检验等）使用适当的方法或流程。示例包括但不限于以下内容，或美光与供应商另行约定的其他方法：
失效模式与影响分析（FMEA）和质量控制计划。
质量策划过程中各环节使用的统计工具。
技术风险评估。
污染评估。
量具、重复性和可靠性研究。
实验设计活动。
根本原因分析或其他问题解决方法。
异常产品消除（MPE）/ 零缺陷计划。
5.5 质量报告
根据与美光的约定，供应商应定期或根据需要提供质量报告。此类报告可能包括但不限于关键指标、测量结果、目标或持续改进成果。
5.6 供应商质量控制要求
5.6.1 美光要求供应商在所有环节（来料、过程中及出货）进行适当的监控和控制，并实施可接受的统计方法。美光期望供应商按定义 / 要求为提供给美光的任何产品或材料提供统计过程控制（SPC）数据。
5.6.1.1 应美光要求，供应商应为指定产品提供月度 SPC 报告，除非另有约定。该数据应包括所有适用参数的计算得出的 Cp 和 Cpk 值。计算方法应与美光和 AIAG 的 SPC 要求保持一致。对于非关键供应商类别，美光将根据风险和绩效评估确定所需的报告频率。
5.6.1.2 应美光要求，供应商应能提供证明其制造过程受控的 SPC 数据。
5.6.1.3 供应商应保留文件以识别所有在制品（WIP），包括每个在制品项目所参考的规范。供应商应采取控制措施，防止降级品和 / 或退回部件与合格库存混合。除非双方另有约定，否则应采用先进先出（FIFO）的库存控制方法。
5.6.2 分析证书（CoA）或符合性证书（CoC）
5.6.2.1 要求报告实际成分的材料或物品，其相关要求将在美光材料产品规范或美光内部各部门或工艺领域适用的其他质量规范中列明（如前端材料、后端材料、模块 / 固态硬盘等）。当有要求时，供应商应对每批货物中的产品，至少按照约定的美光材料产品规范或其他质量规范中列出的参数进行分析。
5.6.2.2 供应商应根据要求，在美光收到其产品之前或之时向美光提供分析证书或符合性证书。电子分析证书或符合性证书数据应至少在发货给美光前 24 小时提供。分析证书或符合性证书必须通过美光规定的方式发送；通过 eCOA/eSupplier 系统提交是首选方式。
5.6.3 发货控制与统计过程控制
5.6.3.1 美光对与制造相关的 “直接材料” 或 “关键材料” 采用发货控制（STC）流程。供应商应按要求参与对美光采购的产品或原材料应用发货控制原则。
5.6.3.2 发货控制流程的实施应采用美光认可的统计方法。
5.6.3.3 在协议生效时，供应商与美光将审核并商定每种材料或产品的 “STC CL” 和 “STN CL”：
“STC CL”：发货控制限。若任何 “控制” 参数失控（OOC），未经美光相应的供应商质量或来料质量控制代表出具书面豁免，材料不得发往美光。
“STN CL”：发货通知控制限。材料在发往美光前，需预先通知并获得相应的供应商质量或来料质量控制代表的批准。
5.6.3.4 供应商应按预先确定的频率（不超过每季度一次）跟踪并提交所有测量要素的 SPC 数据。发货控制 / 统计过程控制数据及控制限的审核至少每年进行一次，但美光和 / 或供应商可根据工艺变更或数据的重大变化，要求对发货控制 / 统计过程控制参数的增减进行审核。
5.6.3.5 除非双方共同同意，否则所有测量参数都需要进行分析并得出实际值，直至美光与供应商确定目标限值。
5.6.3.6 对参数的定期发货控制和统计过程控制数据审核应包括产品或材料规范中所有参数的计算得出的 Cp 和 Cpk 值。所有已定义的关键 / 控制参数的最小 Cpk 值要求为 1.33，汽车和关键直接材料的最小 Cpk 值要求为 1.67。对于未达到这些 Cpk 值要求的参数，需制定改进计划。
5.6.3.7 所有认证分析应从运输容器中取样进行，或根据材料或产品的特性，在尽可能接近生产线末端的位置取样。
5.6.4 异常产品消除
美光期望所有供应商建立系统控制措施，以检测并防止异常材料或产品的发货。美光建议参考 JESD50C 中对异常产品的定义。未经美光事先书面批准或授权，任何异常产品不得发往美光或美光的分包商。